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設備(bei)主要(yao)(yao)可用于檢(jian)測(ce)(ce)手(shou)機(ji)中(zhong)(zhong)框、后殼、屏幕玻璃、手(shou)機(ji)包裝(zhuang)盒(he)、等需要(yao)(yao)多面(mian)檢(jian)測(ce)(ce)的(de)產(chan)品(pin)上。機(ji)械手(shou)將產(chan)品(pin)從托盤中(zhong)(zhong)取出(chu)(chu),經過相機(ji)進行視覺對位后,放入檢(jian)測(ce)(ce)區域。檢(jian)測(ce)(ce)區域可做任(ren)意平面(mian)角度旋轉。完成檢(jian)測(ce)(ce)后,再(zai)由機(ji)械手(shou)取出(chu)(chu),根(gen)據(ju)檢(jian)測(ce)(ce)情況,放入OK/NG料盤中(zhong)(zhong)。
可(ke)檢測(ce)項目:產品正面尺寸,側面尺寸、缺陷(xian)、一(yi)維碼、二維碼、印(yin)刷字符缺陷(xian)等。
檢測(ce)精(jing)度:正面相機100*150 0.05mm
側(ce)面(mian)相機(ji) 10*20 0.01mm
測試速(su)度:0.2S/PCS
設備速度:……
參考案例:
手機(ji)中(zhong)框檢(jian)測(ce),測(ce)量內部(bu)螺絲(si)孔(kong)、切削位置尺寸(cun)、側面音量鍵(jian)孔(kong)尺寸(cun)、耳(er)機(ji)、充電(dian)孔(kong)尺寸(cun)。檢(jian)測(ce)時間時間 5S/PCS
配置參數:
檢測效率 | 1000PCS/H |
適用范圍 | 尺寸小于(yu)180*120(mm)零(ling)組件 |
測量系統 | 日本基恩士相機系統 |
控制系統 | 基(ji)恩士PLC控制器(qi)+工業電腦+EPSON機(ji)械(xie)手 |
檢測精度 | 最高可達5um |
材料要求 | / |
設備功率 | <2KW |