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點激光平面度(du)測(ce)(ce)(ce)試(shi)機，利用點激光多(duo)點測(ce)(ce)(ce)高，組合后(hou)進行產品(pin)平面度(du)測(ce)(ce)(ce)量。同時可以用于測(ce)(ce)(ce)試(shi)高度(du)差。激光測(ce)(ce)(ce)量精度(du)可達50um。雙穴測(ce)(ce)(ce)量，提高檢測(ce)(ce)(ce)效率(lv)。
配置參數：
運行效率 | 3600點/H |
適用范圍 | 平面度測量 |
測量系統 | 日本基恩(en)士點(dian)激光系統 |
控制系統 | 工業電(dian)腦+PLC控制(zhi)器(qi) |
檢測精度 | 測量精度 0.005mm |
材料要求 | / |
設備功率 | <2KW |
